快速溫變?cè)囼?yàn)(ESS)與冷熱沖擊試驗(yàn)的比較
摘要: 快速溫變?cè)囼?yàn)(ESS)與冷熱沖擊試驗(yàn)的比較Z近幾年我們跟很多客戶交流，談到冷熱沖擊試驗(yàn)和快速溫變?cè)囼?yàn)兩者之間的區(qū)別時(shí)，由于每個(gè)用戶測(cè)試產(chǎn)品不同，測(cè)試的階段和目的也不相同，以至于對(duì)這兩種測(cè)試方法存在很多不同 ...
快速溫變?cè)囼?yàn)(ESS)與冷熱沖擊試驗(yàn)的比較
Z近幾年我們跟很多客戶交流，談到冷熱沖擊試驗(yàn)和快速溫變?cè)囼?yàn)兩者之間的區(qū)別時(shí)，由于每個(gè)用戶測(cè)試產(chǎn)品不同，測(cè)試的階段和目的也不相同，以至于對(duì)這兩種測(cè)試方法存在很多不同的見解。我們收集了一些大家比較認(rèn)同的見解做為參考，下面是對(duì)比表，相信大家以后對(duì)這兩種試驗(yàn)方法和試驗(yàn)設(shè)備會(huì)更了解。
項(xiàng)目
冷熱沖擊試驗(yàn)
快速溫變（環(huán)境應(yīng)力篩選ESS）
備注
試驗(yàn)?zāi)康?br />主要考核試件在溫度瞬間急劇變化一定次數(shù)后,檢測(cè)試樣因熱脹冷縮(CTE見注釋#1)所引起的化學(xué)變化或物理破壞
利用外加的環(huán)境應(yīng)力，使?jié)摯嬗陔娮赢a(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制程中，因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來，給予修正和更換
試驗(yàn)?zāi)康牟灰粯?br />測(cè)試階段
主要在研發(fā)設(shè)計(jì)階段,試制階段
主要在量產(chǎn)階段
階段不一樣
測(cè)試對(duì)象
主要用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，現(xiàn)在用的Z多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級(jí)（如PCBA,IC）
主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級(jí)，組件級(jí)和設(shè)備級(jí)
冷熱沖擊很少用于做設(shè)備級(jí)
溫度變化速率要求
無溫變速率指標(biāo),但要求溫度恢復(fù)時(shí)間，參考點(diǎn)一般在出風(fēng)口，國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)都要求5min以內(nèi)，越快越好；也有標(biāo)準(zhǔn)要求在產(chǎn)品表面量測(cè)，溫度恢復(fù)時(shí)間在15min以內(nèi)
為了增強(qiáng)篩選效果，常見快速溫變箱建議選擇溫變速率為10~25℃/min，且溫變速率可控；
樣品失效模式
由于材料蠕變（見注釋#2）及疲勞損傷引起的失效，也稱脆性失效
由于材料疲勞（見注釋#3）引起的失效
失效模式不一樣
常見故障現(xiàn)象
如零部件的變形或破裂，絕緣保護(hù)層失效，運(yùn)動(dòng)部件的卡緊或松弛電氣和電子元器件的變化，快速冷凝水或結(jié)霜引起電子或機(jī)械故障
如涂層、材料或線頭上各種微裂紋擴(kuò)大；使粘結(jié)不好的接頭松馳；使螺釘連接或鉚接不當(dāng)?shù)慕宇^松馳；材料熱膨脹系數(shù)不同產(chǎn)生的變形和應(yīng)力引起的故障,使固封材料絕緣下降；使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳；使質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或造成開路；使運(yùn)動(dòng)件及密封件故障
從故障現(xiàn)象看上看二者有一些相同之處
參考標(biāo)準(zhǔn)
JESD22-A106B
GJB-150-A
MIL-STD-810G
MIL-STD-202G 
JEDEC JESD22-A104-b 
IEC68-2-1 
MIL-STD-2164-85
IEC60749-25
設(shè)備選擇
a.對(duì)元器件（電容、電感、IC），板卡的中小尺寸產(chǎn)品，*選擇提籃式冷熱沖擊，測(cè)試效果更嚴(yán)苛
b.對(duì)超大尺寸產(chǎn)品，如液晶電視或者重型產(chǎn)品，建議選擇三箱式會(huì)更適合
c.如果遇到重型產(chǎn)品，而且尺寸也比較大，同時(shí)要求過沖小，可選擇水平式提籃冷熱沖擊箱做參考
d．除霜周期要求
a.設(shè)備尺寸大小，常見尺寸400L, 800L, 1000L或定制
b．實(shí)際測(cè)試溫度范圍（如: -40℃~85℃），同時(shí)也要求設(shè)備全程溫度范圍（如：-70℃~190℃）
c.溫變速率要求；是線性溫變速率還是平均溫變速率；如有帶載溫變速率要求，要明確帶載情況，包括靜態(tài)負(fù)載（通常拿鋁錠做參考）和熱負(fù)載（產(chǎn)品帶電發(fā)熱） 
d.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如: IEC-60068-3-5 和GB/T 5170）
問題探討1：有些用戶認(rèn)為冷熱沖擊試驗(yàn)箱與快速溫變箱在某些特定條件下可以共用，比如：溫度沖擊測(cè)試條件是-40℃~85℃，溫度恢復(fù)時(shí)間5min以內(nèi)，高低溫駐留時(shí)間30min。如果快速溫變箱的溫變速率能達(dá)到25℃/min以上，他們認(rèn)為也滿足溫度恢復(fù)時(shí)間5min以內(nèi)的要求，就可以代替冷熱沖擊箱。但據(jù)我們實(shí)際測(cè)試的情況看，還是有很大差異的，尤其是冷熱沖擊箱的瞬間降溫和升溫速率，是遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于25℃/min的，一般都達(dá)到35℃/min以上，Z終造成的失效模式是*不一樣的，所以不建議用快速溫變箱代替。
問題探討2：HASS高加速應(yīng)力篩選（熱應(yīng)力）也是ESS的一種測(cè)試方法，只是溫變速率要求達(dá)到40℃/min以上，是以HALT高低溫極限試驗(yàn)完后，經(jīng)裁剪而得出的HASS試驗(yàn)條件，測(cè)試?yán)砟钍窃诨谠缙诘腅SS方法，只是施加更強(qiáng)的應(yīng)力，來幫助用戶更快捷，更有效的篩選產(chǎn)品早期故障。